NoticiasNewsNews - Página 3 de 3 - eiit

GOEPEL electronic automatiza la Validación y el Test de E/S de alta velocidad mediante instrumentos embebidos FPGA

En la Conferencia Internacional del Test 2013, GOEPEL introdujo Generadores de Programas de Aplicación Automáticos (AAPG) para la validación del diseño y el test de FPGA integrada de E/S de alta velocidad (HSIO), basado en la tecnología ChipVORX ® para instrumentos integrados FPGA. Ahora los usuarios pueden evaluar la calidad del canal de transmisión mediante la utilización de pruebas de la tasa de error de bit (BERT) . Esto permite una evaluación gráfica según el diagrama de ojo dinámico, para apoyar la validación del diseño .

” La evolución hacia diseños de placas base FPGA también está acompañada por más y más E/S de alta velocidad, difíciles de testear por métodos tradicionales debido a la disminución continua de acceso físico. Nuestra nueva solución aborda precisamente este problema “, dice Heiko Ehrenberg , Technology Officer for Embedded System Access for GOEPEL en los EE.UU. “Debido al alto nivel de automatización, los parámetros FPGA de alta velocidad E/S pueden ser definidos interactivamente y ser inmediatamente efectivos sin síntesis de diseño, es decir, los usuarios pueden verificar directamente la influencia en la calidad de transferencia. Además, las señales recibidas en el silicio se registran y se visualizan, esto permite que los resultados de la medición no sean alterados”.

Sobre el Generador de Programas de Aplicación Automático (AAPG):
El nuevo generador es otra opción en el software JTAG / Boundary Scan de la plataforma del SYSTEM CASCON ™, permite la generación automática de scripts de aplicaciones completas de instrumentos de prueba de HSIO integrados en FPGA. Estas son selecciones de instrumento dependientes del chip, dentro de una FPGA, direccionamiento, configuración, control de procedimientos , cualificación de los datos generados y la visualización gráfica.
El AAPG conecta la información del instrumento ChipVORX model con la base de datos intrasistema para una descripción del UUT (unidad bajo prueba) estructural y funcional y directrices de usuario de protocolo específico, para configuración de los canales E/S de alta velocidad del FPGA. El Script generado completamente de forma automatica basado en el lenguaje estándar CASLAN (CAScon LANguage) integrado en SYSTEM CASCON ™ y se puede ejecutar en una estación run-time sin opciones adicionales. Soporta también aplicaciones Gang (múltiples UUT a la vez)

Tasa de error de prueba (BERT) :
Los llamados Bit Error Rates (BER) han sido medidos para evaluar la calidad del canal en los sistemas de transmisión digital . BER es la relación entre los bits transportados defectuosos y el número total de bits transportados en un cierto intervalo de tiempo . El equipo consiste básicamente en el generador de patrón , un transceptor con un detector de errores y un reloj , que los sincroniza a ambos. Los patrones de bits , creados por el generador de patrones , son especialmente importantes para la calidad de la tasa de error de prueba , ya que tienen una influencia fundamental en la estimulación fallo durante la transmisión ( patrón de estrés).

Sobre la Instrumentación embebida en chip:
La instrumentación embebida en chip está permanentemente integrada o son funciones de test y medida (T&M) implementadas temporalmente en un circuito integrado. Virtualmente, son la contrapartida de los instrumentos de T&M externos, ya que no requieren contacto invasivo por medio de sondas o pinchos. Por lo tanto, se eleminia el problema de distorsión de señal en diseños de alta velocidad por efectos parásitos de contacto . La instrumentación integrada en chip es parte de la llamada tecnología Embedded System Access (ESA) que actualmente son la estrategia más moderna para realizar la validación, las pruebas y la depuración , así como la programación de tarjetas y sistemas complejos . Pueden ser utilizados a lo largo de toda el ciclo de vida del producto , lo que permite una mejor cobertura de la prueba a costos reducidos.

ChipVORX ®:
ChipVORX es una tecnología basada en IP para la implementación, acceso y control de instrumentos embebidos a través de IEEE Std. 1149.x/JTAG. También es compatible con los instrumentos embebidos FPGA en forma de softcores. La biblioteca ChipVORX contiene actualmente más de 300 pruebas diferentes y los instrumentos de medición para todas las plataformas líderes en FPGA . Algunos de estos instrumentos son medidores de frecuencia y programadores Flash de alta velocidad, así como IP para test at-speed de memoria RAM dinámica

Desarrollo , financiación y disponibilidad :
El desarrollo de instrumentos BERT como prototipos y su integración en el software del sistema correspondiente es el resultado de una cooperación estratégica entre GOEPEL electrónico y Testonica Lab . Los modelos ChipVORX® IP para BERT son soportados por el sistema CASCON ™ partir de la versión 4.6.3 , y se activan mediante licencia al igual que el software del sistema. SISTEMA CASCON ™ es el entorno de desarrollo de GOEPEL electrónico profesional JTAG / Boundary Scan con la actualidad más de 45 totalmente integrado ISP , pruebas y herramientas de depuración . En términos de hardware, ChipVORX es totalmente compatible con la plataforma SCANFLEX ®.

El proyecto sobre el que se basa esta publicación fue financiada por el Ministerio Federal de Educación e Investigación en el marco del programa de financiación Eurostars (E! 5568 COMBOARD).

GOEPEL electronic e iSYSTEM desarrollan Plataforma integrada para Validación y Test Software y Hardware

En la Conferencia Internacional de Test 2013 , GOEPEL electrónica, proveedor mundial de Boundary Scan e iSystem , proveedor de herramientas innovadoras de software embebido, anunciaron la introducción en el mercado de otro nuevo desarrollo en el marco de una cooperación estratégica a largo plazo para tecnologías Embedded System Access (ESA).
La innovación llamada iTIC integra un debugger on-chip completo en forma de un TAP Interface Card (TIC) en la plataforma de hardware ESA SCANFLEX ® , por primera vez. Sobre esta base , reúne las tecnologías para test y prueba de software no intrusivo y validación hardware, con compatibilidad sin precedentes.
El iTIC , controlado a través de la interfaz estándar interno de las tarjetas de interfaz TAP II , soporta todos los procedimientos de depuración de software , así como las tecnologías para Embedded System Access , como Boundary Scan , Test de emulación del procesador , FPGA prueba asistida y programación de Flash y de PLD .

“El nuevo iTIC es un hito muy importante para la aplicación integral de nuestra filosofía de Embedded System Access . El éxito de la cooperación con iSystem a largo plazo, nos permite apoyar a un número considerablemente más elevado de los microprocesadores y, además, aprovechar las sinergias entre las diferentes aplicaciones en un grado aún mayor ” , dice Thomas Wenzel , Director General de JTAG de GOEPEL electrónica / División Boundary Scan. “La oportunidad de llevar a cabo todos los procedimientos en una sola plataforma ofrece a los usuarios mayor eficiencia en el diseño del test y la flexibilidad en la prueba durante todo el ciclo de vida del producto . “

“En los últimos años , hemos ampliado sistemáticamente la conectividad de nuestras herramientas para el desarrollo de software embebido y de test, asociarnos con los proveedores de productos complementarios para crear valores añadidos significativos en la eficiencia operativa y el rendimiento para nuestros clientes ” , explica Erol Simsek , CEO de iSystem AG. “En base a la intensa cooperación con GOEPEL electrónica como líder del mercado Embedded System Access technologies , vamos a seguir este curso , y, además, extender nuestras actividades como proveedor OEM “.

iTIC

Módulo iTIC :

El iTIC ya es el séptimo miembro de la familia de la tarjeta de interfaz TAP (TIC), controlado a través de una interfaz diferencial. Eso quiere decir, que todas las instalaciones existentes se pueden simplemente actualizar.
El acoplamiento diferencial permite que los datos circulen sin problemas de transferencia hasta 80 MHz a distancias de hasta cuatro metros. No habrá pérdida de rendimiento debido a los retrasos de tiempo de ejecución de los cables y las unidades bajo prueba (UUT) se pueden compensar de forma individual por TAP por medio de la tecnología ADYCS ™ . Como resultado , el ITIC se puede integrar en entornos críticos de aplicación tales como fixtures de test In-Circuit.
Diseñado como una cabeza de test activa, el ITIC soporta una multitud de diferentes operaciones y arquitecturas de procesos. Estos incluyen estándares como IEEE1149.1 , IEEE1149.6 , IEEE1149.7 , IEEE1532 y IEEE- 5001 OITS y numerosas interfaces no JTAG como BDM (Background Debug Mode) , SBW ( Spy- Bi -Wire ) , SWD (Serial Wire Debug) y muchos más. La interfaz de destino puede estar completamente aislada galvánicamente a través de los relés.

El iTIC está soportado por JTAG / Boundary Scan software SISTEMA CASCON ™ y es automáticamente detectado por la función AutoDetect . A través de la cooperación del OEM con todos los principales proveedores de In-Circuit testers (ICT), Manufacturing Defect Analysers (MDA) , Flying Probers (FPT) y Functional Test systems (FCT) , la nueva solución ya está disponible para aplicaciones de pruebas de producción.

Sobre Embedded System Access (ESA):
Las tecnologías ESA habilitan el acceso electric a sistemas embebidos sin utilizar pinchos mecánicos o contactos de test (métodos no invasivos). Aplican test integrado en el diseño e interfaces de depuración como JTAG. Además de Boundary Scan, las tecnologías ESA incluyen procedimientos como Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, In-system Programming o Core Assisted Programming. Las tecnologías ESA son actualmente las estrategias modernas para validación, test y depuración así como la programación de chips compejos, tarjetas y unidades completas.

Sobre GOEPEL electronic :
GOEPEL electrónica Gmbh. es un proveedor líder mundial de sistemas de inspección, test electrónico y test óptico, siendo el líder del mercado de soluciones profesionales JTAG / Boundary para Embedded System Access (ESA) . Una red de sucursales , distribuidores y socios de servicio garantiza la disponibilidad global de los productos, así como el soporte de las instalaciones de sistemas de más de 8.000 . Fundada en 1991 y con sede en Jena / Alemania, GOEPEL electrónica emplea actualmente a más de 200 empleados y generó unos ingresos de 27 millones de euros en 2012 (aprox. 36 millones $) . GOEPEL electrónica ha sido continuamente certificada ISO9001 desde 1996 y ha sido galardonado con el TOP- JOB y TOP- 100 premios por ser una de las mejores empresas de tamaño medio en Alemania. Los productos de GOEPEL electrónicos ganaron varios premios en los últimos años y son utilizados por las empresas líderes en telecomunicaciones , automoción , espacio y aviónica, controles industriales , la tecnología médica , y otras industrias. Más información sobre la compañía y sus productos puede encontrarse en Internet en www.goepel.com .

iSYSTEM :
iSystem es una compañía privada con sede en Alemania , cerca de Munich. Desde su fundación en 1986 , iSYSTEM es un fabricante independiente y proveedor de software integrado de depuración y herramientas de test . Junto a los productos estándar iSystem ofrece servicios de desarrollo y producción de los diseños personalizados , proyectos y productos OEM .

iSYSTEM’s Blue Box Technology permite un acceso más rápido y fácil al microcontrolador a través de cualquier tipo de interfaz de depuración microcontroladores. Tanto en el desarrollo y depuración como test de software embebido en un sistema real. El software de Depuración y Test abierto de iSYSTEM permite a los ingenieros ejercitar una Blue Box para poder realizar el desarrollo.

Las herramientas iSYSTEM aportan principalmente soporte y seguridad a la hora del desarrollo de aplicaciones. Y por lo tanto , controlar el desarrollo de software en mercados como automoción / transporte , ferroviario , Aviónica y Medicina , donde los clientes requieren altas y sofisticadas funcionalidades, soporte de automatización de test , servicios y certificación. Mercados como el Industrial, Telecomunicaciones y Consumo se benefician de este programa configurable adaptandolo fácilmente a sus necesidades reales .

iSYSTEM esta especializado en herramientas de test y desarrollo embebido, proporciona soluciones de depuración y analisis para mas de 50 arquitecturas de CPU y derivados ( 3.000 + microcontroladores ) . Los entornos de desarrollo basados en Windows y/o Eclipse son fáciles de aprender y utilizar. La integración flexible y la aplicación de soluciones iSystem dentro del proceso de desarrollo completo está disponible mediante interfaces abiertos y públicos (APIs)

iSYSTEM mantiene larga y estrecha relación con la mayoría de fabricantes de semiconductores, sistemas operativos y compañías de compiladores alrededor del mundo. Esto garantiza una rápida disponibilidad de las herramientas y un alto nivel de integración.

iSYSTEM es una empresa certificada con la ISO9001:2008.

Productronica 2013

Durante los días 12 a 15 de noviembre, ambos inclusive, EIIT asistirá con un stand de 50m2 a la feria más importante del sector de los equipos de producción para electrónica, la Productronica de Munich. Será la vigésima edición de este evento, que desde hace algunos años se organiza bianualmente y en el que en 2011asistieron 13325 asistentes, que tuvieron la oportunidad de visitar un total de 214 expositores que se repartieron en 7 pabellones.

Estarán presentes nuestras 4 unidades de negocio, aunque daremos un mayor énfasis a Special Test Equipment y Solutions, Equipment & Partnership. Presentaremos la cuarta generación de nuestros sistemas en línea de test, se sorprenderá de las nuevas prestaciones. También llevaremos un equipo de Screening test y alguna sorpresa más!

Nuestro stand estará ubicado en el pabellón dedicado al test, el A1, en concreto en el stand 434. Para llegar al mismo deberá utilizar la entrada West de la Feria de Munich.

El horario de visita es:

  • Martes a Jueves: 09:00h – 18:00h
  • Viernes: 09:00h – 16:00h

Aquí le dejamos un link de la organización de cómo llegar al recinto ferial:

http://productronica.com/en/home/visitors/sn/getting_there/~/sourceId/20849622

Si desea recibir invitaciones electrónicas para el evento, envíenos un email con sus datos de contacto a eiitsa@eiit.com indicando en el título del email PRODUCTRONICA 2013.

NIDays 2013 – Foro Tecnológico de Diseño Gráfico de Sistemas

Los pasados 14 y 21 de marzo de 2013 la empresa National Instruments organizó el Foro Tecnológico de Diseño Gráfico de Sistemas. Este año, se organizó en Barcelona y San Sebastián. El objetivo del evento fue que los asistentes aprendieran la evolución de los instrumentos basados en el software gracias a la amplia gama de sesiones técnicas, las aplicaciones prácticas, la zona de exposición y a las irrepetibles ocasiones de trabajo en red. 2013-03-21 10.40.46A dicho evento asistieron ingenieros de diferentes campos industriales (automoción, telecomunicaciones, industrial, medicina, docencia, etc.) y de múltiples departamentos: diseño, producción, calidad, etc. EIIT, como empresa experta en el diseño y fabricación de equipos de test y Alliance Member de National Instruments estuvo representada en un stand dentro del área de exposición, donde los asistentes pudieron ver aplicaciones reales de test. En concreto, mostramos un equipo PXI que generaba señales DVT para una unidad de infotainment del sector de automoción.

Foro de Aeroespacio y Defensa

El pasado 04 de junio de 2013 la empresa National Instruments organizó la séptima edición del Foro de Aerosepacio y Defensa que tuvo lugar en las instalaciones del Instituto Tecnológico de la Marañosa en Madrid.Dicho foro se marcó el ambicioso objetivo de compartir tecnologías innovadoras como soporte de la ingeniería de los sistemas de próxima generación y discutir aplicaciones modernas en el sector.

A dicho evento asistieron desde responsables de departamentos de ingeniería hasta directivos de las empresas más punteras españolas dentro de este sector.

EIIT, como empresa experta en el diseño y fabricación de equipos de test en aeroespacial, aeronáutica y defensa, estuvo representada en un stand, en el que los asistentes pudieron intercambiar opiniones y experiencias relacionadas con el test en esta área de la industria.

Asimismo, formamos parte activa en las jornadas técnicas, realizando la presentación de un reciente y exitoso proyecto entregado:

Streaming de datos y alta velocidad digital en las comunicaciones digitales en el espacio

Nuestro compañero Dimas Gimeno, ingeniero del departamento Special Test Equipment de EIIT fue el encargado de transmitir a los asistentes cuál fue el reto inicial en el comienzo del proyecto y cuáles fueron las herramientas Hardware y Software seleccionadas para implementarlo.

Destacamos un pequeño comentario en su presentación:

“Podemos ver alta velocidad digital, pero el streaming de datos que hemos desarrollado con la tecnología de NI sobre HSDIOs y FPGAs es poco común, sobre todo cuando se hace necesario manejar un ancho de banda y almacenamiento a disco tan elevados.”

GOEPEL electronic prepara la Plataforma Software para el test Embebido y Validación que soportarán los procesadores Intel® Core™ de 4ª Generación

GOEPEL electronic, proveedor mundial de soluciones de acceso a sistemas embebidos (ESA), anuncia el soporte de procesaros de 4ª generación Intel® Core™ (codificados como “Haswell”) dentro del framework de la plataforma SYSTEM CASCON™ para la validación y test de complejas placas de procesadores.

SYSTEM CASCON™ es un entorno de desarrollo de software integrado con un completo conjunto de herramientas, interfaz de usuario uniforme y desarrollo de proyecto gráfico para la utilización sincronizada de todas las tecnologías ESA, permitiendo test, programación y operaciones de depurado sin acceso con agujas o sondas (no invasiva). Además del JTAG/ Boundary Scan/ IEEE 1149.x, los elementos claves de la filosofía ESA son en particular el Test de emulación de procesador, instrumentación del Chip Embedded, programación asistida, y test de FPGAs asistido.

El soporte de los nuevos procesadores de Intel está basado en la reciente tecnología presentada como Intel® Silicon View Technology (Intel® SVT). Intel® SVT es un método propietario, que se compone de varios caracterñisticas integradas en los procesadores y chipsets Intel, que permiten el depurado de plataformas, validación eléctrica y test en producción. Los complejos diseños basados en procesador Intel Core de 4ª Generación con limitado acceso físico y señales de alta velocidad pueden ser ahora verificados estructural y funcionalmente con diagnósticos de altísima calidad.

Por medio de modelos VarioTAP® específicos a cada procesador, estas capacidades pueden incorporarse con facilidad en el SYSTEM CASCON. Información adicional puede encontrarse en goepel.com/en/jtag-boundary-scan/silicon-partner/intel-corporation.html

“Durante más de una década nuestras soluciones de sistemas han permitido la utilización de las características de Boundary Scan/IEEE 1149.x de los procesadores Intel para el test de placas complejas. Dar soporte a los procesadores Intel Core de 4ª Generación basados en la tecnología Intel Silicon View es el siguiente paso lógico en la explotación de validación adicional y oportunidades de test con nuestra filosofía de acceso a sistemas embebidos”, explica Heiko Ehrenberg, Technology Officer para Tecnologías de Acceso a sistemas Embebidos y Director en GOEPEL electronics LLC en Estados Unidos. “Para diseños donde se utilicen los procesadores Intel Core de 4ª Generación, nuestros clientes OEM, ODM y subcontratistas de electrónica podrán recurrir a las nuevas herramientas SYSTEM CASCON para acelerar el prototipado, acortar los tiempos para la introducción de nuevos productos (NPI), y asegurar la calidad de los tests de producción con acceso reducido. Como un gran número de estos usuarios son también miembros del sistema de Alianzas Inteligentes de Intel, esta plataforma nos permitirá concretamente dirigir las necesidades y cooperar con desarrolladores de sistema, fabricantes de sistemas e integradores de sistemas.”

En el contexto del desarrollo de nuevo producto, GOEPEL electronic se ha incorporado a la Alianza Inteligentes de Intel® como miembro general. Dicha Alianza es in ecosistema global de más de 200 compañías miembro que proporcionan la ejecución de proyectos, conectividad, manejabilidad y desarrolladores de seguridad que se necesitan para crear sistemas inteligentes conectados entre ellos. La colaboración cercana con Intel permite a los miembros de la Alianza innovar con las últimas tecnologías, ayudando a los desarrolladores a entregar las primeras soluciones en el mercado.

Sobre la 4ª Generación de CPUs Intel Core y Intel® SVT La plataforma de procesadores Intel® Core™ de 4ª Generación está basada en un transistor Tri-Gate mejorado y tecnología de proceso de 22nm. Proporciona un rendimiento incrementado, doblando el potencial gráfico, incrementando en un 50% la vida de la batería para aplicaciones portátiles e incrementa la flexibilidad de E/S con el apoyo de interfaces USB 3.0, PCI Express 3.0 y serial ATA. Adicionalmente, la arquitectura permite el uso de la tecnología Intel Silicon View asegurando el diseño y la calidad de test para los OEM y ODM. Más información en intel.com.

Intel® y Intel Core™ son marcas registradas de Intel Corporation en los Estados Uniddos y otros países.