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Oferta especial de verano para el test interactivo de unidades de control electrónicas

Desde el inicio de la feria Automotive Testing Expo 2014 en Stuttgart, Göpel electronics ofrece un paquete completo para el test interactivo de unidades electrónicas de control (ECU) en el contexto de una campaña veraniega.

El paquete especial de Göpel está compuesto por hardware, software y el terminal de operador ya preconfigurado para utilizarlo de inmediato.

El controlador de comunicaciones modular smartCar permite una variedad de aplicaciones de test y diagnóstico, que pueden ser paramertizadas a través del paquete de software innovador e intuitivo, myCar.

Como bonus especial, el paquete incluye una Tableta Windows que complete la colección y permite su uso inmediato. La oferta especial de verano de GOEPEL electronics soporta los interfaces de comunicación CAN, LIN y K-Line, junto con sus correspondientes protocolos de transporte y de diagnóstico.

La oferta es limitada y válida hasta el 30 Septiembre de 2014.

SmartCAR+myCAR+Tablet

ENCUENTROS DE NEGOCIOS INTERNACIONALES DE LA INDUSTRIA AEROSPACIAL Y DE DEFENSA

EIIT estará presente en las reuniones de Aeroespacio y Defensa en Sevilla del 3 a 6 de junio, donde plataformas B2B, conferencias de alto nivel y tours ayudarán a entender las tendencias y necesidades del negocio aeroespacial. El evento tendrá lugar en el IBES PALACIO DE CONGRESOS Y EXPOSICIONES DE SEVILLA (Avenida ALCALDE LUIS URUÑUELA, 1, Sevilla). Encontrará información más detallada en: http://www.bciaerospace.com/sevilla/es/
Contáctenos si desea una reunión personal.

ADM Sevilla

NIDays 2014 – 2 Premio a la mejor aplicación de test y medida

En el transcurso de las jornadas técnicas organizadas el pasado 8 de abril de 2014 por la empresa National Instruments en el recinto ferial de IFEMA, nuestro ingeniero Miguel Navas, del departamento de Special TEST Equipment, realizó una presentación técnica de un proyecto entregado recientemente. Dicho proyecto fue distinguido con el segundo premio a la mejor aplicación de test y medida durante el año pasado. Este hecho nos orgullece y nos empuja a seguir trabajando en las aplicaciones que cada día realizamos en las que se requiere cada vez más conocimientos y dominio de las herramientas hardware y software de National Instruments, así como otras tecnologías empleadas en los mismos.

EIIT, como empresa experta en el diseño y fabricación de equipos de test y Alliance Member de National Instruments estuvo representada en un stand dentro del área de exposición, donde los asistentes pudieron ver aplicaciones reales de test.

NI Days 2014

NI DAYS 2014 España

Como es habitual durante los últimos años, EIIT, como empresa Alliance Member de National Instruments, estará presentes en el Foro Tecnológico NI Days mostrando soluciones innovadoras de test en nuestras áreas de negocio principales. Dicho evento tendrá lugar el próximo 8 de abril en la feria de Madrid IFEMA (Centro de Convenciones Norte). Nos podrá encontrar en el área de expositores.
Las inscripciones deben realizarse entrando en http://spain.ni.com/nidays

NI DAYS 2014 Spain

NI DAYS 2014 España

Distribuidores internacionales

EIIT en su continuo proceso de internacionalización se complace anunciar la recientemente abierta red global de distribuidores. Esperamos de este modo llegar a más ubicaciones de clientes y ofrecerles el mejor servicio técnico.

Estos partners fortalecerán el acceso de la compañía en sus países y proveerán atención rápida y efectiva a sus clientes.

Damos la bienvenida a nuestros partners:

  • ELAS Kft (Hungría)
  • Ol-Tech (Polonia)
  • Lenax (Inglaterra)
  • Lenax (Bulgaria)
  • Edgetech  (India)
  • Puva (México)
  • Maxtronix (Filipinas)

Para información de contacto detallada, visitar bajo nuestra web el apartado DONDE ESTAMOS > EIIT PARTNERS.

Acuerdo de distribución con TRI

El GRUPO EIIT se complace en anunciar el acuerdo de distribución en España y Portugal de la línea de productos de test de la empresa taiwanesa Test Research, Inc. Adicionalmente hemos cerrado un acuerdo que nos permite integrar la instrumentación de test ICT/MDA en nuestros sistemas de test, tanto en línea como manuales. En el GRUPO EIIT, confiamos que esta alianza estratégica nos haga crecer internacionalmente entregando los excelentes productos de TRI & EIIT integrados y sus avanzado servicios.

Sobre TRI

TRI ofrece las soluciones más efectivas en términos de coste y rendimiento para satisfacer una amplia gama de requisitos de test e inspección en la fabricación electrónica. Desde sistemas de Inspección de Pasta de Soldar (SPI), Inspección Óptica automática (AOI) e Inspección automatizada de rayos X en 3D (AXI), hasta equipamiento de análisis de fallos en producción (MDA) y equipos In-Circuit.
Test Research, Inc., fundada en abril de 1989, se dedica a jugar un papel de liderazgo como proveedor de soluciones en materia de inspección y pruebas de automatización para las industrias de la electrónica, la información y la comunicación. Con fuertes capacidades de I+D, han desarrollado equipos de inspección y pruebas automatizadas utilizado para el montaje de PCB y embalaje IC. Estos productos han servido para mejorar la productividad de sus clientes, los rendimientos y la calidad del producto. En la actualidad, en TRI trabajan 800 empleados y cuenta con oficinas en los EE.UU., Malasia, China continental, Alemania, Japón y Corea. También tienen distribuidores en más de 30 países. Obtenga más información en www.tri.com.tw.

GOEPEL electronic exhibe el Mixed Signal Tester-on-Chip (ToC) controlable por JTAG

En la Conferencia Internacional de Test 2013, GOEPEL electrónica mostrará  CION ™ LX, el primer Tester on Chip (ToC) controlable por JTAG en el mundo de arquitectura mixed signal. El chip recientemente desarrollado, proporciona canales de test single-ended y diferenciales, con un interfaz compatible con IEEE Std. 1149.1, IEEE Std.1149.6, o IEEE Std 1149.8.1. Todos los canales pueden acoplarse con numerosos instrumentos analógicos y digitales. Como resultado, el  CION LX puede soportar más de 15 test operaciones de medida y test estáticos y dinámicos en cada canal de test. Además de las funciones tipicas de Boundary Scan, la generación de forma de onda arbitraria, la grabación de la señal analógica, la medición digital de la frecuencia y detección de cambio de nivel. En relación con las características de la interfaz programables tales como  slew rate o pull up/down el CION LX ofrece una configuración de señal extremadamente flexible y, por lo tanto, la universalidad necesaria como una interfaz de test.

“El nuevo CION LX permite crear sistemas de prueba de bajo costo ampliables y universales que pueden ser fácilmente integrados en los ecosistemas JTAG existentes , cubriendo pruebas analógicas y digitales ademas de tareas de medida ” , indica  Heiko Ehrenberg , Technology Officer for Embedded System Access de GOEPEL EE.UU. “La aplicación se focaliza en la mejora de calidad de prueba a través de pruebas estructurales más profundas y más flexible y pruebas at-speed que no requieren de instrumentación de alta gama. La arquitectura por pin utilizada permite implementaciones casi ilimitadas de estrategias de prueba de señales mixtas” .

Sobre el CION™ LX:

CION LX

El CION LX se desarrolló en tecnología CMOS 0,35 µm y proporciona cuatro puertos I/O independientes. Cada puerto puede ser operado individualmente en un rango de voltaje de 0,9 V a 3,6 V. La arquitectura Boundary Scan integrada soporta los estándares IEEE 1149.1, IEEE 1149.6 and IEEE 1149.8.1, a una frecuencia TCK máxima de 100 MHz. Además de los pines single-ended, el CION LX proporciona señales diferenciales así como interfaces con capacidad ampliada de driver. Cuatro modos de operación permiten el uso flexible del IC como JTAG transceiver, buffer I/O paralelo, bus trasceiver latched, y pin driver.

Además, instrumentos como digitalizadores, generador de forma de onda arbitraria, contador de eventos o frecuencímetro y detector de cambio de nivel, están integrados en el CION LX. Estos instrumentos son accesibles – dependiendo del modo de operación – bien serialmente a través del puerto de acceso (TAP) JTAG o bien a través de bus de control paralelo. Los instrumentos pueden ser activados para operaciones de Boundary Scan simultáneamente y por canal de test. Para cada canal, se pueden conectar adicionalmente resistencias de pull-up y pull-down. Además, los slew rates son programables.

 

Disponibilidad y Licencias:

La CION LX está disponible actualmente como una muestra. Las primeras entregas en serie están previstas para el tercer cuatrimestre de 2013. Se utilizará un encapsulado LGA con 116 pines. Adicionalmente, estará disponible una tarjeta de evaluación CION LX.

JTAG/Boundary Scan:

Boundary Scan (IEEE Std . 1149.x) es un moderno método de acceso para el test y programación de circuitos complejos sin necesidad de acceso de sondas mecánica (no intrusivo). Bondary Scan es parte de las estrategias Embedded System Access (ESA) strategies and está basado en electrónica de test integrada en el diseño. Las tecnologías  ESA incluyen técnicas como Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, In-System Programming o Core Assisted Programming. Actualmente son las estrategias más modernas para la validación, test  y depuración, así como la programación de tarjetas complejas y sistemas. Pueden ser aplicados en todo el ciclo de vida del producto, lo que permite una mayor cobertura de test a costos reducidos.

GOEPEL electronic automatiza la Validación y el Test de E/S de alta velocidad mediante instrumentos embebidos FPGA

En la Conferencia Internacional del Test 2013, GOEPEL introdujo Generadores de Programas de Aplicación Automáticos (AAPG) para la validación del diseño y el test de FPGA integrada de E/S de alta velocidad (HSIO), basado en la tecnología ChipVORX ® para instrumentos integrados FPGA. Ahora los usuarios pueden evaluar la calidad del canal de transmisión mediante la utilización de pruebas de la tasa de error de bit (BERT) . Esto permite una evaluación gráfica según el diagrama de ojo dinámico, para apoyar la validación del diseño .

” La evolución hacia diseños de placas base FPGA también está acompañada por más y más E/S de alta velocidad, difíciles de testear por métodos tradicionales debido a la disminución continua de acceso físico. Nuestra nueva solución aborda precisamente este problema “, dice Heiko Ehrenberg , Technology Officer for Embedded System Access for GOEPEL en los EE.UU. “Debido al alto nivel de automatización, los parámetros FPGA de alta velocidad E/S pueden ser definidos interactivamente y ser inmediatamente efectivos sin síntesis de diseño, es decir, los usuarios pueden verificar directamente la influencia en la calidad de transferencia. Además, las señales recibidas en el silicio se registran y se visualizan, esto permite que los resultados de la medición no sean alterados”.

Sobre el Generador de Programas de Aplicación Automático (AAPG):
El nuevo generador es otra opción en el software JTAG / Boundary Scan de la plataforma del SYSTEM CASCON ™, permite la generación automática de scripts de aplicaciones completas de instrumentos de prueba de HSIO integrados en FPGA. Estas son selecciones de instrumento dependientes del chip, dentro de una FPGA, direccionamiento, configuración, control de procedimientos , cualificación de los datos generados y la visualización gráfica.
El AAPG conecta la información del instrumento ChipVORX model con la base de datos intrasistema para una descripción del UUT (unidad bajo prueba) estructural y funcional y directrices de usuario de protocolo específico, para configuración de los canales E/S de alta velocidad del FPGA. El Script generado completamente de forma automatica basado en el lenguaje estándar CASLAN (CAScon LANguage) integrado en SYSTEM CASCON ™ y se puede ejecutar en una estación run-time sin opciones adicionales. Soporta también aplicaciones Gang (múltiples UUT a la vez)

Tasa de error de prueba (BERT) :
Los llamados Bit Error Rates (BER) han sido medidos para evaluar la calidad del canal en los sistemas de transmisión digital . BER es la relación entre los bits transportados defectuosos y el número total de bits transportados en un cierto intervalo de tiempo . El equipo consiste básicamente en el generador de patrón , un transceptor con un detector de errores y un reloj , que los sincroniza a ambos. Los patrones de bits , creados por el generador de patrones , son especialmente importantes para la calidad de la tasa de error de prueba , ya que tienen una influencia fundamental en la estimulación fallo durante la transmisión ( patrón de estrés).

Sobre la Instrumentación embebida en chip:
La instrumentación embebida en chip está permanentemente integrada o son funciones de test y medida (T&M) implementadas temporalmente en un circuito integrado. Virtualmente, son la contrapartida de los instrumentos de T&M externos, ya que no requieren contacto invasivo por medio de sondas o pinchos. Por lo tanto, se eleminia el problema de distorsión de señal en diseños de alta velocidad por efectos parásitos de contacto . La instrumentación integrada en chip es parte de la llamada tecnología Embedded System Access (ESA) que actualmente son la estrategia más moderna para realizar la validación, las pruebas y la depuración , así como la programación de tarjetas y sistemas complejos . Pueden ser utilizados a lo largo de toda el ciclo de vida del producto , lo que permite una mejor cobertura de la prueba a costos reducidos.

ChipVORX ®:
ChipVORX es una tecnología basada en IP para la implementación, acceso y control de instrumentos embebidos a través de IEEE Std. 1149.x/JTAG. También es compatible con los instrumentos embebidos FPGA en forma de softcores. La biblioteca ChipVORX contiene actualmente más de 300 pruebas diferentes y los instrumentos de medición para todas las plataformas líderes en FPGA . Algunos de estos instrumentos son medidores de frecuencia y programadores Flash de alta velocidad, así como IP para test at-speed de memoria RAM dinámica

Desarrollo , financiación y disponibilidad :
El desarrollo de instrumentos BERT como prototipos y su integración en el software del sistema correspondiente es el resultado de una cooperación estratégica entre GOEPEL electrónico y Testonica Lab . Los modelos ChipVORX® IP para BERT son soportados por el sistema CASCON ™ partir de la versión 4.6.3 , y se activan mediante licencia al igual que el software del sistema. SISTEMA CASCON ™ es el entorno de desarrollo de GOEPEL electrónico profesional JTAG / Boundary Scan con la actualidad más de 45 totalmente integrado ISP , pruebas y herramientas de depuración . En términos de hardware, ChipVORX es totalmente compatible con la plataforma SCANFLEX ®.

El proyecto sobre el que se basa esta publicación fue financiada por el Ministerio Federal de Educación e Investigación en el marco del programa de financiación Eurostars (E! 5568 COMBOARD).

GOEPEL electronic e iSYSTEM desarrollan Plataforma integrada para Validación y Test Software y Hardware

En la Conferencia Internacional de Test 2013 , GOEPEL electrónica, proveedor mundial de Boundary Scan e iSystem , proveedor de herramientas innovadoras de software embebido, anunciaron la introducción en el mercado de otro nuevo desarrollo en el marco de una cooperación estratégica a largo plazo para tecnologías Embedded System Access (ESA).
La innovación llamada iTIC integra un debugger on-chip completo en forma de un TAP Interface Card (TIC) en la plataforma de hardware ESA SCANFLEX ® , por primera vez. Sobre esta base , reúne las tecnologías para test y prueba de software no intrusivo y validación hardware, con compatibilidad sin precedentes.
El iTIC , controlado a través de la interfaz estándar interno de las tarjetas de interfaz TAP II , soporta todos los procedimientos de depuración de software , así como las tecnologías para Embedded System Access , como Boundary Scan , Test de emulación del procesador , FPGA prueba asistida y programación de Flash y de PLD .

“El nuevo iTIC es un hito muy importante para la aplicación integral de nuestra filosofía de Embedded System Access . El éxito de la cooperación con iSystem a largo plazo, nos permite apoyar a un número considerablemente más elevado de los microprocesadores y, además, aprovechar las sinergias entre las diferentes aplicaciones en un grado aún mayor ” , dice Thomas Wenzel , Director General de JTAG de GOEPEL electrónica / División Boundary Scan. “La oportunidad de llevar a cabo todos los procedimientos en una sola plataforma ofrece a los usuarios mayor eficiencia en el diseño del test y la flexibilidad en la prueba durante todo el ciclo de vida del producto . “

“En los últimos años , hemos ampliado sistemáticamente la conectividad de nuestras herramientas para el desarrollo de software embebido y de test, asociarnos con los proveedores de productos complementarios para crear valores añadidos significativos en la eficiencia operativa y el rendimiento para nuestros clientes ” , explica Erol Simsek , CEO de iSystem AG. “En base a la intensa cooperación con GOEPEL electrónica como líder del mercado Embedded System Access technologies , vamos a seguir este curso , y, además, extender nuestras actividades como proveedor OEM “.

iTIC

Módulo iTIC :

El iTIC ya es el séptimo miembro de la familia de la tarjeta de interfaz TAP (TIC), controlado a través de una interfaz diferencial. Eso quiere decir, que todas las instalaciones existentes se pueden simplemente actualizar.
El acoplamiento diferencial permite que los datos circulen sin problemas de transferencia hasta 80 MHz a distancias de hasta cuatro metros. No habrá pérdida de rendimiento debido a los retrasos de tiempo de ejecución de los cables y las unidades bajo prueba (UUT) se pueden compensar de forma individual por TAP por medio de la tecnología ADYCS ™ . Como resultado , el ITIC se puede integrar en entornos críticos de aplicación tales como fixtures de test In-Circuit.
Diseñado como una cabeza de test activa, el ITIC soporta una multitud de diferentes operaciones y arquitecturas de procesos. Estos incluyen estándares como IEEE1149.1 , IEEE1149.6 , IEEE1149.7 , IEEE1532 y IEEE- 5001 OITS y numerosas interfaces no JTAG como BDM (Background Debug Mode) , SBW ( Spy- Bi -Wire ) , SWD (Serial Wire Debug) y muchos más. La interfaz de destino puede estar completamente aislada galvánicamente a través de los relés.

El iTIC está soportado por JTAG / Boundary Scan software SISTEMA CASCON ™ y es automáticamente detectado por la función AutoDetect . A través de la cooperación del OEM con todos los principales proveedores de In-Circuit testers (ICT), Manufacturing Defect Analysers (MDA) , Flying Probers (FPT) y Functional Test systems (FCT) , la nueva solución ya está disponible para aplicaciones de pruebas de producción.

Sobre Embedded System Access (ESA):
Las tecnologías ESA habilitan el acceso electric a sistemas embebidos sin utilizar pinchos mecánicos o contactos de test (métodos no invasivos). Aplican test integrado en el diseño e interfaces de depuración como JTAG. Además de Boundary Scan, las tecnologías ESA incluyen procedimientos como Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, In-system Programming o Core Assisted Programming. Las tecnologías ESA son actualmente las estrategias modernas para validación, test y depuración así como la programación de chips compejos, tarjetas y unidades completas.

Sobre GOEPEL electronic :
GOEPEL electrónica Gmbh. es un proveedor líder mundial de sistemas de inspección, test electrónico y test óptico, siendo el líder del mercado de soluciones profesionales JTAG / Boundary para Embedded System Access (ESA) . Una red de sucursales , distribuidores y socios de servicio garantiza la disponibilidad global de los productos, así como el soporte de las instalaciones de sistemas de más de 8.000 . Fundada en 1991 y con sede en Jena / Alemania, GOEPEL electrónica emplea actualmente a más de 200 empleados y generó unos ingresos de 27 millones de euros en 2012 (aprox. 36 millones $) . GOEPEL electrónica ha sido continuamente certificada ISO9001 desde 1996 y ha sido galardonado con el TOP- JOB y TOP- 100 premios por ser una de las mejores empresas de tamaño medio en Alemania. Los productos de GOEPEL electrónicos ganaron varios premios en los últimos años y son utilizados por las empresas líderes en telecomunicaciones , automoción , espacio y aviónica, controles industriales , la tecnología médica , y otras industrias. Más información sobre la compañía y sus productos puede encontrarse en Internet en www.goepel.com .

iSYSTEM :
iSystem es una compañía privada con sede en Alemania , cerca de Munich. Desde su fundación en 1986 , iSYSTEM es un fabricante independiente y proveedor de software integrado de depuración y herramientas de test . Junto a los productos estándar iSystem ofrece servicios de desarrollo y producción de los diseños personalizados , proyectos y productos OEM .

iSYSTEM’s Blue Box Technology permite un acceso más rápido y fácil al microcontrolador a través de cualquier tipo de interfaz de depuración microcontroladores. Tanto en el desarrollo y depuración como test de software embebido en un sistema real. El software de Depuración y Test abierto de iSYSTEM permite a los ingenieros ejercitar una Blue Box para poder realizar el desarrollo.

Las herramientas iSYSTEM aportan principalmente soporte y seguridad a la hora del desarrollo de aplicaciones. Y por lo tanto , controlar el desarrollo de software en mercados como automoción / transporte , ferroviario , Aviónica y Medicina , donde los clientes requieren altas y sofisticadas funcionalidades, soporte de automatización de test , servicios y certificación. Mercados como el Industrial, Telecomunicaciones y Consumo se benefician de este programa configurable adaptandolo fácilmente a sus necesidades reales .

iSYSTEM esta especializado en herramientas de test y desarrollo embebido, proporciona soluciones de depuración y analisis para mas de 50 arquitecturas de CPU y derivados ( 3.000 + microcontroladores ) . Los entornos de desarrollo basados en Windows y/o Eclipse son fáciles de aprender y utilizar. La integración flexible y la aplicación de soluciones iSystem dentro del proceso de desarrollo completo está disponible mediante interfaces abiertos y públicos (APIs)

iSYSTEM mantiene larga y estrecha relación con la mayoría de fabricantes de semiconductores, sistemas operativos y compañías de compiladores alrededor del mundo. Esto garantiza una rápida disponibilidad de las herramientas y un alto nivel de integración.

iSYSTEM es una empresa certificada con la ISO9001:2008.

Productronica 2013

Durante los días 12 a 15 de noviembre, ambos inclusive, EIIT asistirá con un stand de 50m2 a la feria más importante del sector de los equipos de producción para electrónica, la Productronica de Munich. Será la vigésima edición de este evento, que desde hace algunos años se organiza bianualmente y en el que en 2011asistieron 13325 asistentes, que tuvieron la oportunidad de visitar un total de 214 expositores que se repartieron en 7 pabellones.

Estarán presentes nuestras 4 unidades de negocio, aunque daremos un mayor énfasis a Special Test Equipment y Solutions, Equipment & Partnership. Presentaremos la cuarta generación de nuestros sistemas en línea de test, se sorprenderá de las nuevas prestaciones. También llevaremos un equipo de Screening test y alguna sorpresa más!

Nuestro stand estará ubicado en el pabellón dedicado al test, el A1, en concreto en el stand 434. Para llegar al mismo deberá utilizar la entrada West de la Feria de Munich.

El horario de visita es:

  • Martes a Jueves: 09:00h – 18:00h
  • Viernes: 09:00h – 16:00h

Aquí le dejamos un link de la organización de cómo llegar al recinto ferial:

http://productronica.com/en/home/visitors/sn/getting_there/~/sourceId/20849622

Si desea recibir invitaciones electrónicas para el evento, envíenos un email con sus datos de contacto a eiitsa@eiit.com indicando en el título del email PRODUCTRONICA 2013.